接觸式測(cè)量

使被測(cè)物體與靜電電壓表直接接觸，利用等電位原理進(jìn)行測(cè)試的方法稱為接觸式測(cè)量，這種測(cè)量方法僅適用于對(duì)靜電導(dǎo)體帶電電位的測(cè)試。

非接觸式測(cè)量
使用這種測(cè)試方法時(shí)，測(cè)試儀表不用直接與帶電體接觸，而 運(yùn)用靜電感應(yīng)的原理，間接測(cè)試帶電體的靜電電位。由于這種測(cè)試不是直接同帶電體相接觸，因此也稱為非接觸式測(cè)量。

與接觸式測(cè)量相比，非接觸式測(cè)量結(jié)題受儀表輸入電容、輸入電阻的影響較小，但受測(cè)試距離、帶電體幾何尺寸的影響較大。測(cè)試數(shù)據(jù)一般只能作為參考，或進(jìn)行相對(duì)比較。

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